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XAU-4C光譜分析儀x射線測(cè)厚儀是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度*的光譜分析儀,采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì),是一款一機(jī)多用型光譜儀。應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù),既保留了專用測(cè)厚儀檢測(cè)微小樣品和凹槽的性能,又可滿足微區(qū)RoHS檢測(cè)及成分分析。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。
XTU-50B X射線熒光譜儀鍍層厚度測(cè)試儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊,但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔,即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測(cè)試。搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計(jì),以及變焦算法裝置,可測(cè)試極微小和異形樣品。是專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。
國(guó)產(chǎn)x射線熒光鍍層測(cè)厚儀集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于金屬鍍層(鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍鈀……)行業(yè)的一款膜厚測(cè)儀器,該產(chǎn)品可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。
國(guó)產(chǎn)XD-1000X熒光測(cè)厚儀是專業(yè)測(cè)試金屬鍍層厚度的儀器,是一款無(wú)損測(cè)試設(shè)備,采用X射線原理,產(chǎn)品采用上照式照射方式,對(duì)于不規(guī)則產(chǎn)品測(cè)試效果更好,X熒光測(cè)厚儀同時(shí)可以測(cè)試鍍金,鍍銀,鍍銅,鍍銠,鍍鈀,鍍鎳等。
國(guó)產(chǎn)X射線測(cè)厚儀XU-100是快速、無(wú)損、精確測(cè)試電鍍層厚度的儀器,改革開放以后,電鍍工業(yè)也進(jìn)入快速發(fā)展時(shí)期,大批境外進(jìn)入中國(guó)長(zhǎng)三角、珠三角、渤海灣等地區(qū)。膜厚測(cè)試儀介紹,電鍍層膜厚測(cè)試儀主要測(cè)試金屬鍍層厚度,采用X光照射,*無(wú)損測(cè)試,*多一次性可以分析五層。
國(guó)產(chǎn)電鍍層膜厚測(cè)試儀介紹,電鍍層膜厚測(cè)試儀主要測(cè)試金屬鍍層厚度,采用X光照射,*無(wú)損測(cè)試,*多一次性可以分析五層。