型號(hào)：

鍍錫測(cè)厚儀

描述：Thick800A鍍錫測(cè)厚儀是銷(xiāo)量很好的鍍層測(cè)厚儀；儀器采用上照式結(jié)構(gòu)，測(cè)試，軟件界面簡(jiǎn)潔，測(cè)試樣品用時(shí)40S，主要用于檢測(cè)金屬電鍍層厚度（如鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍鈀……）；在企業(yè)品質(zhì)檢測(cè)、來(lái)料管控方面，得到廣泛的應(yīng)用。

廠商性質(zhì)
經(jīng)銷(xiāo)商
更新時(shí)間
2025-05-18
訪問(wèn)量
1220

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詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷

鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法：

1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-20052、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-20053、庫(kù)侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法 2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

部分產(chǎn)品

X熒光電鍍層測(cè)厚儀，銀層測(cè)厚儀，鍍層膜厚測(cè)試儀，銅上鍍鎳金測(cè)厚儀，X熒光金屬膜厚測(cè)厚儀，x熒光金屬測(cè)厚儀，國(guó)產(chǎn)電鍍層測(cè)厚儀，電鍍層測(cè)厚儀，x射線熒光鍍層測(cè)厚儀，鍍鎳無(wú)損電鍍測(cè)厚儀，鎳層測(cè)厚儀，鍍金層X(jué)射線無(wú)損測(cè)厚儀，金屬鍍層ROHS檢測(cè)儀，x熒光鍍層測(cè)厚儀價(jià)格，鍍銀層無(wú)損測(cè)厚儀，x熒光鍍層測(cè)厚儀，金屬鍍層測(cè)厚儀，金層測(cè)厚儀，無(wú)損金屬鍍層測(cè)厚儀,鍍金膜厚儀,PCB表面鍍層測(cè)厚儀,金屬鍍層分析儀，鍍銀厚度測(cè)試儀，膜厚測(cè)試儀x-ray ，金屬鍍層膜厚儀，X射線熒光多鍍層厚度測(cè)量?jī)x，銅鍍銀X射線無(wú)損測(cè)厚儀，鍍層分析儀.x光鍍層測(cè)厚儀，X射線鍍層測(cè)厚儀價(jià)格，鍍層測(cè)厚儀，錫層測(cè)厚儀，X熒光金屬膜厚測(cè)厚儀，XRF鍍層測(cè)厚儀，鍍層分析儀，PCB線路板鍍層測(cè)厚儀

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